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半導体製造用最先端ArFレジスト事業を拡大 !
次世代液浸レジストの開発強化に向け
45nm・32nm世代対応「ArF液浸露光装置」を導入


平成20年1月11日
富士フイルム株式会社

富士フイルム株式会社(社長:古森 重隆)は、他社に先駆けて平成18年に45nm世代*1対応のトップコート(保護膜)が不要なArF液浸レジスト「FAiRS-9000シリーズ」を開発し、同年よりサンプルを提供しております。今後、大手半導体メーカーでの45nm世代の量産開始に向けて、最新の「ArF液浸露光装置」を導入し、さらなる開発の充実を図ることで、最先端ArFレジスト事業をさらに拡大してまいります。

富士フイルムの「FAiRS-9000シリーズ」は、リソグラフィー性能のみならず、パターン欠陥の大幅な低減等により、半導体メーカーにて次世代の半導体製造プロセス用として最高レベルの評価をいただいております。今後「ArF液浸露光装置」を活用し、45nm世代に続き32nm世代でも最高品質の次世代半導体用レジストを開発してまいります。

「ArF液浸露光装置」は、45nm・32nm世代のArF液浸リソグラフィープロセス*2に対応しており、研究開発拠点であるエレクトロニクスマテリアルズ研究所(静岡県榛原郡吉田町)に導入します。「ArF液浸露光装置」に併せて「塗布現像機」も導入し、液浸レジストの一貫評価を可能にすることで、顧客のニーズに一層迅速に対応できるようにいたします。

ArF液浸リソグラフィー技術は、回路パターンを二分割して形成する「ダブルパターニングプロセス」*3等の適用により、さらに微細化が進む32nm世代の半導体デバイスの回路パターン形成への採用も有望視されています。富士フイルムは、32nm以降の世代においても簡素なプロセスで低コスト・高生産性を実現できる材料の開発を強化していきます。

富士フイルムは、半導体材料分野を成長事業の一つと位置付け、トップシェア獲得に向けて取り組んでいます。今後も半導体産業のさらなる発展に貢献する研究開発を進め、顧客に最高品質の次世代液浸レジストを供給してまいります。

 
*1:
半導体デバイスの技術世代の一つ。回路パターンの基本設計寸法を表す。現在は65nm世代の量産に入っている。45nm世代は2010年頃に本格量産が開始になる見込み。 
 
*2:
光源にArF(フッ化アルゴン)レーザーを用いた45nm 世代以降の半導体デバイスの回路パターン形成に用いられる露光プロセスで、露光機の投影レンズとシリコン基板上に形成されたレジスト膜との間に水を充填させることで光学的な解像力を向上させる方式。 
 
*3:
密集した回路パターンにて光学像の重なりが増すことによる解像性の低下を防ぐパターニング方法で、一つの基板上に最終的に必要なパターンを一度で形成せずに、まず飛び飛びの密集していないパターンを形成し、形成したパターンの間に飛ばしておいたパターンを別途形成することで、最終的に密集した高解像パターンを形成する方法。 



本件に関するお問い合わせは、下記にお願いいたします。
お客さま  エレクトロニクスマテリアルズ事業部  TEL 03-6271-2155
報道関係  広報部
 TEL 03-6271-2000
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